英文原题：Accurate Simulations of Scanning Tunneling Microscope: Both Tip and Substrate States Matter
为了最大程度地从扫描隧道显微镜（STM）测量中提取对微观世界的认识，高分辨率测量和精确模拟必须密切合作。新兴的STM实验技术，例如衬底隔绝技术间隔物和针尖修饰，抑制了金属耦合并提高分辨率，实现了原子层次的成像。另一方面，过去十年中STM模拟方法的发展并不活跃。传统的模拟侧重于衬底的电子结构，往往忽略了针尖状态对成像的影响。同时，大量使用周期性边界条件仅能对中性系统进行有效模拟。在本综述中，我们强调了近期在Tersoff-Hamann和Bardeen近似下同时考虑针尖和基底效应的进展，强调了同时考虑针尖和衬底效应在高分辨率STM结果的精准解析、基本概念的揭示以及合理设计针对重要化学系统实验方案中的重要性。我们希望本综述将激发人们对先进STM模拟的广泛兴趣，为涉及复杂几何和电子结构的STM研究指明前进的方向。
J. Phys. Chem. Lett., 2023, 14, 29, 6726–6735
DOI: 10.1021/acs.jpclett.3c01603
